為什么電子產(chǎn)品、LED燈具要做HAST高加速老化試驗

HAST高加速老化試驗?zāi)康氖菫榱颂岣攮h(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間，隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長期的THB試驗（目前業(yè)界常用的THB試驗條件為85℃,85% RH,1000 hours）而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了壓力蒸煮鍋試驗方法。選擇HAST作為產(chǎn)品試驗條件前,需先確認產(chǎn)品的材料特性是否可承受高溫環(huán)境(130℃/110℃)及高壓應(yīng)力(230/122KPa)，避免因材料特性限制而產(chǎn)生非關(guān)聯(lián)性之失效。