樣品名稱(chēng)：PCB板試驗(yàn)名稱(chēng)：高低溫變化測(cè)試工作狀態(tài)：通電測(cè)試溫度/保持時(shí)間：70 ℃~-20 ℃ / 30 min溫變速率：15 ℃/min測(cè)試時(shí)間：24小時(shí)

樣品名稱(chēng)：檢修箱試驗(yàn)名稱(chēng)：溫度存儲(chǔ)測(cè)試

樣品名稱(chēng)：導(dǎo)軌支架 試驗(yàn)名稱(chēng)：拉伸測(cè)試

樣品名稱(chēng)：試驗(yàn)樣品底座試驗(yàn)名稱(chēng)：鹽霧測(cè)試

樣品名稱(chēng)：電子助力器總成試驗(yàn)名稱(chēng)：熱循環(huán)振動(dòng)測(cè)試樣品狀態(tài)：測(cè)試中通DC 13.6V，并用電腦對(duì)樣品進(jìn)行監(jiān)測(cè)。

樣品名稱(chēng):袖珍式手電試驗(yàn)名稱(chēng)：防水測(cè)試

芯片需要做什么測(cè)試？芯片的測(cè)試主要分為三大類(lèi)：芯片功能測(cè)試、性能測(cè)試、可靠性測(cè)試。這三大測(cè)試缺一不可。而芯片可靠性測(cè)試中，不可或缺的是HAST測(cè)試！