電子元器件壽命試驗(yàn)

壽命試驗(yàn)是評(píng)價(jià)、分析產(chǎn)品壽命特征的試驗(yàn)，它是在實(shí)驗(yàn)室條件下，摸擬實(shí)際工作狀 態(tài)或儲(chǔ)存狀態(tài)，投人一定樣品進(jìn)行試驗(yàn)，試驗(yàn)中記錄樣品失效的時(shí)間，并對(duì)這些失效時(shí)間 進(jìn)行統(tǒng)計(jì)、分析，以評(píng)估產(chǎn)品的可靠性數(shù)量特征(如可靠度、失效串、平均壽命等），作為可 靠性預(yù)測(cè)、可靠性設(shè)計(jì)、制定篩選條件、制定例行試驗(yàn)的規(guī)范和改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量的依據(jù)。

壽命試驗(yàn)可根據(jù)不同的分類(lèi)方法進(jìn)行不同的分類(lèi):如以施加應(yīng)力大小區(qū)分,可分為長(zhǎng) 期壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn);如以受試樣品所處狀態(tài)區(qū)分,又可分為儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)和工作 壽命試驗(yàn)兩大類(lèi);如從數(shù)據(jù)處理角度出發(fā)，又可劃分為定時(shí)截尾試驗(yàn)、定數(shù)截尾試驗(yàn)、有替 換試驗(yàn)、無(wú)替換試驗(yàn)等類(lèi)型。

模擬壽命試驗(yàn)是一種模擬微電路應(yīng)用環(huán)境的組合試 驗(yàn)。它的組合應(yīng)力有機(jī)械、溫度、濕度和低氣壓四應(yīng)力試驗(yàn)及機(jī)械、溫度、濕度和電四應(yīng)力 試驗(yàn)等。