電子元器件壽命試驗-上海檢測機構(gòu)
壽命試驗是評價、分析產(chǎn)品壽命特征的試驗，它是在實驗室條件下，摸擬實際工作狀 態(tài)或儲存狀態(tài)，投人一定樣品進行試驗，試驗中記錄樣品失效的時間，并對這些失效時間 進行統(tǒng)計、分析，以評估產(chǎn)品的可靠性數(shù)量特征(如可靠度、失效串、平均壽命等），作為可 靠性預(yù)測、可靠性設(shè)計、制定篩選條件、制定例行試驗的規(guī)范和改進產(chǎn)品質(zhì)量的依據(jù)。
因為壽命試驗的目的是考核產(chǎn)品在規(guī)定的條件下，在全過程工作時間內(nèi)的質(zhì)量和可 靠性，所以，為了使試驗結(jié)果有較好的代表性，參試的樣品要有足夠的數(shù)量。
壽命試驗可根據(jù)不同的分類方法進行不同的分類:可分為長 期壽命試驗和加速壽命試驗;,又可分為儲存壽命試驗和工作 壽命試驗兩大類;如從數(shù)據(jù)處理角度出發(fā)，又可劃分為定時截尾試驗、定數(shù)截尾試驗、有替 換試驗、無替換試驗等類型。
因為壽命試驗的目的是考核產(chǎn)品在規(guī)定的條件下，在全過程工作時間內(nèi)的質(zhì)量和可 靠性，所以，為了使試驗結(jié)果有較好的代表性，參試的樣品要有足夠的數(shù)量。
壽命試驗可根據(jù)不同的分類方法進行不同的分類:可分為長 期壽命試驗和加速壽命試驗;,又可分為儲存壽命試驗和工作 壽命試驗兩大類;如從數(shù)據(jù)處理角度出發(fā)，又可劃分為定時截尾試驗、定數(shù)截尾試驗、有替 換試驗、無替換試驗等類型。
